本文標(biāo)題：" 微探針測(cè)試儀器簡(jiǎn)介-試片之電性量測(cè)及驅(qū)動(dòng)測(cè)試"
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儀器名稱 微探針測(cè)試平臺(tái)
功能
進(jìn)行試片之電性量測(cè)及驅(qū)動(dòng)測(cè)試。
規(guī)格
X ＆ Y 軸大位移量：25 mm。
注意事項(xiàng)
1. 移動(dòng)平臺(tái)時(shí)，請(qǐng)確認(rèn)探針皆已升起或移開(kāi)試片表面后方可移動(dòng)。
2. 移動(dòng)平臺(tái)時(shí)，旋鈕不可轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)快；大位移時(shí)，請(qǐng)直接移動(dòng)試片
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微探針測(cè)試儀器簡(jiǎn)介-試片之電性量測(cè)及驅(qū)動(dòng)測(cè)試,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
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