本文標(biāo)題："掃描顯微鏡有切片顯微鏡同樣觀察效果并有更高解析度"
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掃描顯微鏡有光學(xué)切片顯微鏡同樣觀察效果并有更高解析度
光電子顯微術(shù)
材料科學(xué)應(yīng)用,磁性記憶材料分析研究
具有次微米的空間解析能力(0.2微米)，并能于提供影像的同時(shí)給于微區(qū)域的X-光吸收能譜。
藉由其在材料的電子結(jié)構(gòu)與表面化學(xué)顯微的分析能力，
符合了國內(nèi)學(xué)術(shù)界及工業(yè)界對(duì)次微米級(jí)材料與結(jié)構(gòu)研究的需求。
由于結(jié)合同步輻射光源的波長連續(xù)可調(diào)性以及橢圓偏振聚頻磁鐵所提供的光子偏振控制，
使得許多無法利用傳統(tǒng)顯微方法進(jìn)行研究之實(shí)驗(yàn)可以藉由光電子顯微儀而得到有效的分析。
這是因?yàn)楣怆娮语@微儀具有比電子顯微儀較低的破壞性以及能從事定點(diǎn)化學(xué)能譜分析，所以能近乎非破壞
性的分析樣品材質(zhì)成份及其化學(xué)能態(tài)。因此在超大型積體電路元件、高分子表面催化反應(yīng)、及多
層磁性薄膜等研究上有極大的應(yīng)用前途。
由于雷射掃描共焦顯微鏡具有非破壞性的光學(xué)切片能力，同時(shí)能重
建立體的三維空間影像，使空間的解析率提高，加上即時(shí)的快速成像能
力，使得其成為探測奧妙的生物世界極佳工具（Stephen, 1999）。同時(shí)
LSCM 也可廣泛的適用于光電材料或是晶片的檢測。由于雷射掃描共焦
顯微術(shù)之螢光影像必須在樣品有自發(fā)或染料具染色螢光，且螢光信號(hào)對(duì)
背景雜訊比要高，才能得到高品質(zhì)的螢光影像。
因此使用 LSCM 時(shí)，使用者所需面對(duì)的另一課題在于：如何尋找適當(dāng)?shù)臉悠啡緞右耘浜?/div>
螢光激發(fā)的波長和合適的光學(xué)濾波片，以及雷射特性的調(diào)整和系統(tǒng)的校
正，以獲得佳的影像資訊。
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