本文標(biāo)題："磨耗試驗(yàn)機(jī)試件,使用光學(xué)顯微鏡(OM)檢測(cè)表面形貌的磨擦痕跡"

以重量百分比計(jì)算(wt%)，規(guī)劃及分配實(shí)驗(yàn)次數(shù)、

實(shí)驗(yàn)條件(如 SN 比、因子的平方和、總平方和、變異數(shù)分析、檢定統(tǒng)計(jì)量及貢獻(xiàn)度等) 來(lái)

作正交實(shí)驗(yàn)，以降低實(shí)驗(yàn)次數(shù)及提高實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確率，并于實(shí)驗(yàn)前使用 ESEM(環(huán)境掃瞄電子

顯微鏡)觀察氮化硼、奈米銅顆粒之形貌粒徑及成份純度。第二步驟是以 SKD-61 模具鋼制

作環(huán)對(duì)盤(pán)試驗(yàn)機(jī)之試件，并進(jìn)行田口式直交表中之各種因子水準(zhǔn)組合之磨耗試驗(yàn)工件，而

在試驗(yàn)前會(huì)先以維克式硬度機(jī)，測(cè)量下試件四點(diǎn)位置的硬度值，并量測(cè)表面粗度值。第三

步驟系將磨耗試驗(yàn)機(jī)試件，進(jìn)行光學(xué)顯微鏡(OM)檢測(cè)表面形貌的磨擦痕跡，再經(jīng)由磨痕圖

來(lái)判別磨耗深度，同時(shí)亦將采用 ESEM(環(huán)境掃瞄電子顯微鏡)觀測(cè)磨痕與磨屑中的組成中是

否有奈米粉體(氮化硼、奈米銅、奈米 Ti 等)的存在，并使用 EDS、Mapping 檢測(cè)成份含量

百分比及成份分佈范圍

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磨耗試驗(yàn)機(jī)試件,使用光學(xué)顯微鏡(OM)檢測(cè)表面形貌的磨擦痕跡,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)