本文標題："光學輪廓儀模式以激光掃描樣品表面"
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光學輪廓儀模式量測樣品表面，此光學輪廓儀模式以激光非接觸式掃描樣品表面，
其速度可達掃描探針顯微鏡之千倍以上，可大幅節省掃描時間。
可能的應用范圍：
奈米級量測前以微米級方式預覽：掃描探針顯微術-以光學輪廓儀模式對樣品表面作粗掃。
優點：
一般傳統掃描探針顯微術（SPM）使用光槓桿原理來偵測SPM探針的位移，無法使用雷射光直接掃描樣品表面。
以像散式量測系統（ADS）為核心的多模式量測光路除了可使用ADS偵測AFM探針的位移，
還可使用ADS直接非接觸式量測樣品表面之形貌與光學特性。
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光學輪廓儀模式以激光掃描樣品表面,熒光顯微鏡現貨供應
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