本文標題："近紅外線光學原理量測植株葉片葉綠素含量"
發布者：yiyi ------ 分類: 站內動態 ------ 人瀏覽過 -----時間：2013-1-12 0:13:27
盆栽作物葉綠素偵測系統
葉片中含氮量可用以做為施肥管理之依據，但在傳統作業植株體內氮肥含量系以破壞性方式測定，造成了取樣困難，樣本數量有限。
利用近紅外線光學原理量測植株葉片葉綠素含量相關原理，以葉綠素含量與氮肥含量的關系，可以對于植物葉片所含葉綠素指數直接量測再計算葉綠素含量，建立一種實地、即時而且非破壞性的葉片氮肥濃度間接量測技術。
以SPAD-502型葉綠素計（Chlorophyll SPAD-502 Meter，Minolta，Japan）進行葉片葉綠素含量之量測，作業方式如圖1。此型葉綠素計利用葉片體內葉綠素對于兩段光譜光波能量之吸收性能，
進行葉綠素含量量測，葉綠素含量以葉綠素指數SPAD表現。量測點之面積為2㎜×3㎜，以2只LED產生不同波長光譜，
量測范圍為0-50 SPAD值，準確性為±1.0 SPAD，溫度與其他影響因子的影響重現性為±0.3 SPAD。文心蘭葉片葉綠素指數與葉片含氮量的關系經迴歸分析結果為線性關系：N=-0.313+0.0258*SPAD。
此量測技術的不確定度為0.15，在施肥管理已有實用價值。
后一篇文章：電子顯微鏡技術發展簡介-什么時候發明的 »
前一篇文章：« 測量顯微鏡檢測元件晶圓的幾何結構
tags:技術,生物顯微鏡,精密儀器,
近紅外線光學原理量測植株葉片葉綠素含量,熒光顯微鏡現貨供應
本頁地址：http://www.web01.cn/wz/447.html轉載注明
本站地址：http://www.web01.cn/
http://www.xianweijing.org/
資訊中心：
延伸閱讀
- 測量顯微鏡檢測元件晶圓的幾何結構(2013-1-11 5:39:18)
- 晶圓顯微鏡廠商-光學顯微鏡檢測電極蝕刻結果實驗(2013-1-10 1:14:6)
- 金屬材料研究分析原材料的特點-上海光學儀器一廠(2013-1-9 5:51:46)
- 顯微鏡觀察晶粒尺寸的大小與空孔的生成之間的關系(2013-1-8 23:51:0)