本文標題："礦物的光學性質、物理特征研究測量圖像顯微鏡"
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礦物的光學性質、物理特征研究測量圖像顯微鏡
目前，對礦物的光學性質、物理性質進行研究測量的儀器隨
著科學技術的發展而愈趨精密，可以測定的光學、物理性質也日
益增多，從而大大地提高了對礦物的鑒定能力和精度。盡管如
此，對礦物的化學成分的測定仍然是十分重要的。
近年來，隨著科學技術的發展，不少顯微分析儀器的發明，
推廣和改進，使對礦物特別是微細礦物的化學成分的測定已成為
可能。如電子探針儀、離子探針儀，激光顯微光譜儀等儀器的發
明和推廣，大大地便利了對礦物的鑒定和提高對礦物特別是微細
礦物的鑒定的準確性。
其全名是電子探針x射線顯微分析儀，是一種取電子顯微鏡
和x射線光譜儀的特點加以組合改進而成的儀器。其特點是在不
破壞光片或試樣的情況下，進行以微米為單位的微區成分分析，
同時也可以對礦物進行形態觀察。
電子探針儀由電子槍發射的高速電子經聚焦成極細的電子束
(探測針)，直接轟擊礦物光片(或試樣)的表面，使被轟擊的
元素產生特征的x射線，‘電子探針儀即根據試樣產生的特征x射
線的波長和強度來測定其中所含元素的性質及其含量。同時也可
根據各種電子圖像和x射線圖像來了解樣品表面結構，起伏和元
素分布狀態。
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